...Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer Probe. Insbesondere erlaubt sie eine eindeutige Ide
Kurzprofil der ToF-SIMS:
Nachweis aller Elemente (inkl. Isotope), molekulare Informationen
Nachweisgrenze im Bereich von Sub-Monolagen (ppm)
Informationstiefe ca. 1-3 Monolagen
Laterale...
Wir sind ein anerkanntes Kompetenzzentrum für Silizium-Germanium-Technologie. Wir forschen und entwickeln siliziumbasierte Systeme, Hochfrequenz-Schaltungen sowie drahtlose und Breitbandkommunikation...
Ziele der Arbeit des ZSW sind: Forschung und Entwicklung für Technologien zur nachhaltigen und klimafreundlichen Bereitstellung von Strom, Wärme und regenerativen Kraftstoffen...