nanoAnalytics GmbH

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Heisenbergstrasse 11, DE-48149 Münster

Lieferung: Weltweit

Gegründet: 1999

Mitarbeiter: 10-19

Lieferantentyp

Dienstleister

Zertifikate(2)

DIN EN ISO 9001:2000

DIN EN ISO/IEC 17025

Firmenüberblick

Unser Labor untersucht für Sie Oberflächen und Grenzflächen. Wir nutzen dabei mikroskopische und spektroskopische Verfahren um morphologische und chemische Fragestellungen zu bearbeiten.

15 Produkte und Services

Vermessung der Morphologie, Topographie oder Rauheitsparametern von Oberflächen

Morphologie und Topographie beschreiben eine Oberfläche qualitativ bzw. quantitativ (z.B. durch Rauheitsparameter nach ISO 4288 oder ISO 25178). Die...

Labor für Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM = Atomic Force Microscopy) ist ein im Jahre 1985 entwickeltes Rastersondenmikroskopieverfahren. Die Rasterkraftmikros...

Prüflabor für Profilometrie und Rauheitsmessungen

LABOR FÜR PROFILOMETRIE und Rauheitsmessungen Mittels optischer Profilometrie kann die Topographie einer Oberfläche berührungslos mit einer vertikal...

Labor für IR / ATIR / IR-MIKROSKOPIE (Infrarotspektroskopie und -mikroskopie)

LABOR FÜR IR / ATIR / IR-MIKROSKOPIE (Infrarotspektroskopie und -mikroskopie) Die Infrarotspektroskopie, kurz IR-Spektroskopie, ist ein physikalische...

Prüf-Labor für REM/EDX - Analysen (Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalysen)

LABOR FÜR REM/EDX / ESMA - ANALYSEN (Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalytik) Die Röntgenmikrobereichsanalyse (EDX) erlaubt in...

Labor für ToF-SIMS - Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometrie

Die Sekundärionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS) ermöglichst die Messung der atomaren und molekulare Zusammensetzung der obersten 1-3 Monolagen einer P...

Fehler- und Schadenanalysen

Bei einer Fehler- oder Schadensanalyse geht es ganz allgemein immer darum herauszufinden, warum ein Bauteil unter bestimmten Bedingungen versagt hat b...

Aufklärung von Schichtstrukturen - Sputterprofilmessungen - Querschnitte

Die Aufklärung des Aufbaus und der Zusammensetzung von Schichtstrukturen vom Mikrometer bis in den Nanometerbereich gehört zu unserem Dienstleistungsa...

Bewertung von Reinigungsprozessen - Analyse von Rückständen

Wir untersuchen Oberflächen vor uns Nach Reinigungsprozessen zur Evaluierung der Reinigungsverfahren und zur Identifizierung von Kontaminationen und R...

Analyse filmischer Verunreinigungen - Zusammensetzung und Ursachensuche

Wir Analysieren Rückstände, filmische Verunreinigung oder auch Partikel Kontamination. Kontaminationen treten in unterschiedlichster Form an Produkt...

Labor zur Messung von Kontaktwinkeln und Oberflächenspannung

Die Benetzbarkeit (messbar über den Kontaktwinkel) und die Oberflächenspannung sind wichtige Kenngrößen für Eigenschaften wir Lackierbarkeit, Verkleb...

Labor für Oberflächenanalytik und Grenzflächenanalytik

Die Oberflächenanalytik beschäftigt sich mit der Untersuchung der Oberfläche einer Probe. Dabei kann es sich sowohl um eine strukturelle als auch eine...

Labor zur Analyse von Kontaminationen und Haftungsproblemen

HAFTUNGSVERSAGEN UND ADHÄSIONSPROBLEME Von besonderem Interesse wird die Haftung meist dann, wenn es zu Haftungsproblemen kommt. Ursache können z.B.

Labor für Photoelektronenspektroskopie (XPS /ESCA)

LABOR FÜR XPS ANALYSEN (ESCA/PHOTOELEKTRONENSPEKTROSKOPIE) ELEMENTE, OXIDATIONSZUSTÄNDE - QUANTITATIV UND OBERFLÄCHENEMPFINDLICH Die XPS Analyse (Ph...

Labor für REM-Analysen (Rasterelektronenmikroskopie)

Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine Technik zur hochauflösenden Abbildung von unterschiedlichsten Proben. Die enorme Auflösung und Tiefens...